Programas de Capacitación

IMPLEMENTANDO EL ANÁLISIS DE LOS SISTEMAS DE MEDICIÓN SMA

ADVANCED COURSES

DURACIÓN: 16 Horas

SESIONES: 2 de 8 Horas de Duración

Objetivo General: ​Reducir los desperdicios y costos causados por la ocurrencia de errores, en la medición.  Contribuir a Mejora la imagen con el cliente al entregarle productos libres de defecto.

 

Competencias a Desarrollar:

 

Dirigido a: Personal de empresas de manufactura responsables de cumplir con los requerimientos de la industria automotriz o que tengan bajo su responsabilidad los laboratorios de Lay Out o Metrología donde se evalúen los sistemas de medición de la empresa.

 

Temario:

 

1. Introducción.

2. Características de los Sistemas de Medición.

3. Calidad o Medición de Datos.

4. Propiedades fundamentales de un buen Sistema de Medición.

5. El Proceso de Medición.

6. Efectos de un error en los Sistemas de Medición.

7. Estabilidad

8. Sesgo.

9. Lineamientos para determinar el Sesgo (Método de Muestreo Independiente).

10. Lineamientos para determinar el Sesgo (Método de Gráficas de Control).

11. Análisis de Estudio de Sesgo.

12. Linearidad.

13. Exactitud (Precisión).

14. Repetibilidad.

15. Reproducibilidad.

16. R&R para Instrumentos de Medición.

17. Lineamientos para determinar la Repetibilidad y Reproducibilidad.

18. Método de Rango.

19. Promedio y Método de  Rango.

20. Gráfica de Análisis de Resultado.

21. Gráficas de Rango.

22. Nube de Puntos (Scatter Plot).

23. Cálculos Numéricos.

24. Análisis de Resultados.

25. Medición de Incertidumbre & MSA.

26. Estudio para Sistemas de Medición por Atributos.

27. Hipótesis y Análisis de Prueba.

28. Enfoque de Detección de Señales.

29. Método Analitico.

30. Apréndices.

 

Nuestros programas e instructores son reconocidos y avalados ampliamente en la industria por certificadoras y universidades a nivel internacional.

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TEKNNA® es una empresa sólida que ofrece soluciones de Consultoría, Tecnología, Coaching, Programas de Capacitación y Conferencias.

 

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contacto@teknna.com

OFICINA MONTERREY

Calzada del Valle # 255 Ote

Col. del Valle

San Pedro Garza García, N.L.

C.P. 662220

Tel. 52+ (81)8262.8385

 

Derechos Reservados Teknna Consultores, S.C. ® 2019

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10. Lineamientos para determinar el Sesgo (Método de Gráficas de Control).

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12. Linearidad.

13. Exactitud (Precisión).

14. Repetibilidad.

15. Reproducibilidad.

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18. Método de Rango.

19. Promedio y Método de  Rango.

20. Gráfica de Análisis de Resultado.

21. Gráficas de Rango.

22. Nube de Puntos (Scatter Plot).

23. Cálculos Numéricos.

24. Análisis de Resultados.

25. Medición de Incertidumbre & MSA.

26. Estudio para Sistemas de Medición por Atributos.

27. Hipótesis y Análisis de Prueba.

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14. Repetibilidad.

15. Reproducibilidad.

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18. Método de Rango.

19. Promedio y Método de  Rango.

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